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分野で探す：半導体関連

顕微鏡用冷却加熱ステージ

型式 10002、10002L、10033、10033L、10035、10035L、10036、10036L
温度範囲 －190～600℃、室温～600℃
試料サイズ 直径16mm×厚さ1.5mm

顕微鏡用大型試料冷却加熱ステージ

型式 10083、10083L、10084、10084L
温度範囲 －100～420℃、室温～420℃
試料サイズ 42mm×53mm×厚さ3mm

顕微鏡用ペルチェ式冷却加熱ステージ

型式 10021、10030、10014
温度範囲 －20(－40)～120℃
試料サイズ 30mm×35mm×厚さ1mm(10021)、40mm×40mm×厚さ1mm(10030,10014)

全5件

分野で探す：半導体関連

顕微鏡用冷却加熱ステージ

型式 10033
温度範囲 室温～600℃
試料サイズ 直径16mm×厚さ1.5mm
用途 一般用(反射試料等)

顕微鏡用冷却加熱ステージ

型式 10033L
温度範囲 －190～600℃
試料サイズ 直径16mm×厚さ1.5mm
用途 一般用(反射試料等)

顕微鏡用大型試料冷却加熱ステージ

型式 10084
温度範囲 室温～420℃
試料サイズ 42mm×53mm×厚さ3mm
用途 電圧・電流印加用

顕微鏡用大型試料冷却加熱ステージ

型式 10084L
温度範囲 －100～420℃
試料サイズ 42mm×53mm×厚さ3mm
用途 電圧・電流印加用

顕微鏡用ペルチェ式冷却加熱ステージ

型式 10014
温度範囲 －20(－40)～120℃
試料サイズ 40mm×40mm×厚さ1mm(10030,10014)
用途 電圧・電流印加用